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更詳細(xì)分類

產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱/型號	產(chǎn)品簡單介紹
	粘度/示差檢測器 BI-2010/2020	BI-2010粘度檢測器采用毛細(xì)管全橋式設(shè)計(jì)，具有高靈敏、低展寬、低噪音和節(jié)約測量時間等特點(diǎn)，其溫控可從室溫達(dá)到80℃。利用BI-2010可得到特征粘度，對樣品進(jìn)行同樣校正，從而得到真實(shí)分子量和結(jié)構(gòu)信息。特征粘度的檢測結(jié)合Mark－Houwink曲線，得到分子機(jī)構(gòu)如枝接密度，共聚組成信息。
	示差折射儀 BI-DNDC	BI-DNDC示差折射儀按測量方式區(qū)分：在靜態(tài)方式下是測量聚合物溶液dn/dc值的專用儀器。采用注射器（2～2.5mL）直接進(jìn)樣，樣品溶液濃度范圍0.1～10mg/mL。在動態(tài)方式下作為凝膠色譜系統(tǒng)的在線示差檢測器。采用進(jìn)樣閥進(jìn)樣，由蠕動泵或HPLC泵驅(qū)動。
	多角度激光光散射儀 BI-MwA（絕*對分子量測定）	基于多年光散射技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)開發(fā)研制的BI-MwA多角度激光光散射儀（絕.對分子量測定）、對光散射儀器，解決了絕.對分子量測定中存在的諸多問題，使得分子量表征更加客觀與可靠。
	圓盤式離心/沉降粒度儀 BI-DCP/BI-XDC	BI-DCP/ BI-XDC是基于經(jīng)典的離心/沉降原理，通過高精度的數(shù)字式電機(jī)控制，是具有統(tǒng)計(jì)意義的粒度儀中分辨率、準(zhǔn)確率很高的測量儀器。廣泛應(yīng)用于膠乳、碳黑、陶瓷和金屬粉末等行業(yè)的質(zhì)量控制方面。
	廣角動靜態(tài)激光光散射儀 BI-200SM	廣角激光光散射儀采用TurboCorr數(shù)字相關(guān)器，通過動態(tài)光散射的方法可以測量小至1nm的納米顆粒分布情況，通過靜態(tài)光散射的方法可測量高分子材料的Zimm、Berry、Debye曲線、分子量、均方根回旋半徑及第.二維里系數(shù)。經(jīng)國內(nèi)外眾多實(shí)驗(yàn)室使用，證明BI-200SM是研究聚合物、膠束、微乳液以及復(fù)雜溶液等體系很好的測試儀器。
	亞微米/納米激光粒度儀 BI-90Plus	90Plus亞微米/納米激光粒度儀基于動態(tài)光散射原理，是一種快速、便捷的納米、亞微米粒度分析測試儀器。動態(tài)光散射原理：由于顆粒在懸浮液中的布朗運(yùn)動，使得光強(qiáng)隨時間產(chǎn)生脈動。采用數(shù)字相關(guān)器技術(shù)處理脈沖信號，可以得到顆粒運(yùn)動的擴(kuò)散信息后，進(jìn)而利用Stokes－Einstein方程計(jì)算得出顆粒粒徑及其分布。
	納米激光粒度儀Zeta電位分析儀 90Plus PALS納米激光粒度儀及高靈敏度Zeta電位分析儀	90Plus PALS納米激光粒度儀及高靈敏度Zeta電位分析儀是能夠精準(zhǔn)測量低電泳遷移率體系Zeta電位的儀器，它采用的是真正的硬件PALS(相位分析光散射)技術(shù)，比其它測量Zeta電位的技術(shù)靈敏度高1000倍。
	納米激光粒度儀Zeta電位分析儀 Omni多角度納米激光粒度儀及高靈敏度Zeta電位分析儀	Omni多角度納米激光粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術(shù)，擁有15°、90°與173°三個散射角度，硬件PALS技術(shù)解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精準(zhǔn)測量，是功能強(qiáng)大的納米激光粒度儀與Zeta電位分析儀。